在工業中使用高光面材質加工一些平整度較高，且表面要求較高的工件
，如手機logo，軍用設備(bèi)中的導光闆等産品，如下圖爲維視智造爲蘋果LOGO瑕疵檢測(cè)。

此類型的工樣品本身是屬於(yú)鏡(jìng)面反光，工件本身平整度高，且易粘黏油污、手印等

反光問題：由於(yú)材質表面光潔度很高，已經形成一個高光鏡面，光源即使在很弱的狀态下，表面的反光也會有非常強的對比度，這種對比度會把表面本身的雜質、劃痕、研磨痕等缺陷覆蓋，使得視覺拍照無法檢測(cè)出零件表面缺陷。

倒影問題：由於(yú)材質表面已經形成一個鏡面，一般的光學鏡頭和光源的燈珠等都會在材質表面形成倒影，這個倒影會成像在最後的檢測(cè)畫面上,會嚴重影響材質表面的成像效果，造成檢測(cè)無法進行。

傳(chuán)統光學系統成像-燈珠倒影 (無法進行檢測(cè))

解決方案：

反光問題(tí)：BT系列遠心同軸照明成像系統採(cǎi)用平行光

反射照明，平行光成像的光學原理，可以把鏡面反光問題完美解決，即使表面有微小的劃痕、擦傷、指紋、油污等缺陷特征也會以很高的灰度對(duì)比度呈現出來，大大降低瞭(le)後期圖像算法的難度

倒影問題：BT系列同軸照明成像系統(BT-2348+BT-CP64/X平行同軸光)，光路平行度高，光斑均勻且全覆蓋檢測(cè)樣品本身，不會産(chǎn)生系統硬件在鏡面本身上的倒影