SN-VR-C12系列
【概要描述】<h1>應用於晶片、電感 、晶振 、芯片等産品</h1>
<span>檢測項目 ：暗裂、崩缺、髒污、缺角、水印 、變形、外形（長寬高）等缺陷</span>
【概要描述】
<h1>應用於晶片、電感、晶振、芯片等産品</h1>
<span>檢測項目：暗裂 、崩缺、髒污 、缺角、水印 、變形、外形（長寬高）等缺陷</span>
詳情
SN-VR-C12系列
應用於晶片、電感、晶振、芯片等産品
檢測項目：暗裂、崩缺、髒污、缺角、水印、變形、外形（長寬高）等缺陷
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