SN-VR-CT2系列
【概要描述】<h1>編帶檢測設備</h1>
<span>檢測項目：印字、有無料 、側翻料、崩缺、針腳長短、編帶封口不良等缺陷</span>
【概要描述】
<h1>編帶檢測設備</h1>
<span>檢測項目：印字 、有無料、側翻料、崩缺、針腳長短 、編帶封口不良等缺陷</span>
詳情
SN-VR-C12系列
應用於晶片、電感 、晶振、芯片等産品
檢測項目 ：暗裂、崩缺、髒污、缺角、水印、變形、外形（長寬高）等缺陷
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SN-VR-C12系列
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無
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